MTBF有三种测试方法，分别是：预测法、实验法、实测法三种方法。
MTBF预测法：
1、标准局限性：目前较通用的性标准是MIL-HDBK-217、GJB/Z299B和Bellcore，分别用于产品和民用产品。其中，MIL-HDBK-217是由美国*部可靠性中心及Rome实验室提出并成为行业标准，专门用于产品MTBF值计算，GJB/Z299B是我国标准；而Bellcore是由AT&TBell实验室提出并成为商用电子产品MTBF值计算的行业标准。MIL-HDBK-217据说95年发布一版后就不再维护更新了，所以标准本身也有局限性
2、预测法局限性：预测法主要采用应力分析法和元件计数法分析产品的MTBF。主要考虑的是产品中每个器件的失效率；影响因素包括：πE 环境因素Environment factor) 、πQ 品质因素：(Quality factor)、πA 应用因素：(Application factor)、πC 复杂性因素：(Quality factor)、πL 累计因素：(Learning factor)、πS 电应力因素：(Electrical Stress factor)、πT 温度因素：(Temperature factor）等。受各种因素影响，以及计算参数的选择上受计算人员对系数的掌握和了解程度影响很大，因此和实际值相比会有很大的差异。不推荐。
MTBF实测法：
顾名思义，就是直接测试，较终统计结果，比如MTBF比较小的产品可以按照这种方法直接验，假如产品手册宣称150万小时，这种方法的确不太可行。
MTBF 实验法：
这种方法是我个人比较推荐的一种方法，经过合理的测试方法，参考准确的测试数据评估出来的MTBF也是比较准确的，实验法大致也分：定时截尾试验：指实验到规定的时间终止。定数截尾试验：指实验到出现规定的故障数或失效数时而终止。因为温度是我们产品一的加速因素，所以这里我引入了加速因子（AF：Accelerate Factor），加速因子AF即为产品在正常使用条件下的寿命和高测试应力条件下的寿命的比值。一般采用Arrhenius Model（阿氏模型），AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]} （画圈圈，在我们Reliability Testing中会经常用到这个AF）。
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